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簡要描述：XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。
產品型號：
所屬分類：MICROMATTER元素標準膜
更新時間：2025-12-08
XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產品可根據(jù)客戶實際需求定制。
可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內打√選擇樣品）：
元素
SL
VL
L
R
H
元素
SL
VL
L
R
H
Na (NaCl)
Co
Mg (MgF2)
Ni
Al
Cu
Si (SiO2)
Zn (ZnTe)
P (GaP)
As (GaAs)
S (CuSx)
Se
Cl (NaCl)
Sr (SrF2)
K (KCl)
Br (CsBr)
Ca (CaF2)
Cd (CdSe)
Sc (ScF3)
Ba (BaF2)
Ti
Pb
V
Sn
Cr
Sb
Mn
In
Fe
Mo
Ag
Hg (HgTe)
可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響；采用生態(tài)環(huán)境部標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。
XRF薄膜標準樣品的安裝形式：
1、 安裝環(huán)尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）
圓形：
代碼
外徑(mm)
內徑(mm)
25
25
17
32
32
25
36
36
29
47
47
39
推薦36號尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，內置?32mm的圓環(huán)，代碼50。
2、 支撐膜材料
代碼
支撐膜材料
備注
N
Nuclepore® polycarbonate
氣溶膠多孔膜
M6.3
6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)
M3.5
3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)
推薦M6.3型材料。
3、 鍍膜方式：
代碼
鍍膜位置排列
A
安裝環(huán)-元素膜-支撐膜
B
元素膜-支撐膜-安裝環(huán)
XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
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